Jon Weisz 是 SAS全球副总裁。在担任此职位之前，他曾是 JMP 的营销总监，并曾担任 SAS 的软件开发、营销和销售支持经理。1999 年他从 Allegro MicroSystems 转投 SAS，在 Allegro MicroSystems 时曾担任统计方法总监。Weisz 先生在半导体、汽车制造和产品开发领域拥有丰富的行业经验。 他于 2008 年完成了哈佛商学院的综合管理课程。Weisz 拥有密歇根大学生物统计学硕士学位和东密歇根大学数学学士学位。他是美国统计协会和美国质量学会院员，并经常发表有关数据可视化、应用统计和试验设计的演说。Weisz 先生曾撰写多篇有关制造和产品开发领域应用统计的论文，并且与他人合著了一本有关采用镜像设计方法进行试验设计的著作。
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